Dans le cadre du projet ANR Depth Paint et du programme Depth Control, nous développons un prototype de spectromètre de fluorescence des rayons X portable, en mode macro scanning (MA-XRF) couplé au mode confocal (C-XRF). A terme, cet appareil est destiné à l’analyse non-invasive de différents objets du patrimoine culturel, tels que la peinture de chevalet, l’art pariétal, les objets archéologiques en métal ou en roche. Pour la fin du projet, nous recherchons un.e expert.e en spectrométrie de fluorescence X, ayant déjà travaillé sur les dispositifs confocal, pour terminer la caractérisation des composants d’analyse de l’appareil (tube, optiques, dispositif d’alignement), déterminer les performances de l’appareil dans les deux modes d’acquisition pour différents matériaux, et déterminer un protocole et un programme de traitement quantitatif simple des données C-XRF à partir des méthodes décrites dans la littérature scientifique.
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